comilla Información del acreditado comilla


Datos generales
Nombre o razón social: Control y Medición CMS, S.A. de C.V.
Nombre comercial: Control y Medición
Actividad principal: EMPRESA DE SERVICIOS
Domicilio: 6 Sur, No. Ext. 10915, No. Int. B, Arboledas de Loma Bella, C.P. 72490, Puebla, Puebla
Teléfono(s): 01 (222) 219 9999
Fax:
Correo(s) electrónico(s): info@controlymedición.com
Página electrónica:
Representante autorizado ante la EMA
Nombre: Daniel Fuentes Contreras
Puesto en la organización: Representante autorizado

Alcance de la acreditación: Laboratorio de Calibración
Norma de acreditación: ISO/IEC 17025:2017. Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración
Número de acreditación Vigencia a partir de Última reevaluación Área Subárea Método o procedimiento Vigencia a partir de Término de vigencia Detalle CMC
D-76 16/12/2009 Dimensional Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) Calibración de calibrador 16/12/2009 Indefinida ir
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) Calibración de micrómetro de exteriores 16/12/2009 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Comparador óptico (desplazamiento de platina) 16/12/2009 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Comparador óptico (Escala Angular) 16/12/2009 Indefinida
Reglas, cintas y flexometros Calibración de cintas graduadas y flexómetros, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio 09/12/2015 Indefinida
Goniometros Calibración de goniómetro (transportador de angulos) 16/12/2009 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Comparador óptico (Amplificación) 16/12/2009 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Microscopios de medición (Desplazamiento de platina) 15/11/2017 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Microscopios de medición (Escala Angular) 15/11/2017 Indefinida
Proyectores de perfiles y microscopios de medición Microscopios de medición (Amplificación) 15/11/2017 Indefinida
Transición CMC Transición CMC 2022-2023 01/12/2022 Indefinida
DZA-06 15/07/2009 Dureza Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) 02/12/2020 Indefinida ir
Medidor de dureza (Durómetro ASKER) Medidor de dureza (Durómetro ASKER) 02/12/2020 Indefinida
Dureza Medidor de dureza (Rockwell) 04/06/2018 Indefinida
Dureza Medidor de dureza (Shore) 04/06/2018 Indefinida
Dureza Medidor de dureza (Brinell) 04/06/2018 Indefinida
Dureza Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) 04/06/2018 Indefinida
Transición CMC Transición CMC 2022-2023 01/12/2022 Indefinida

Signatarios autorizados
Área Método o procedimiento Nombre Vigencia a partir de
Dimensional Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) . Calibración de calibrador Javier Ponce Arredondo 16/12/2009
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) . Calibración de calibrador Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) . Calibración de micrómetro de exteriores Javier Ponce Arredondo 16/12/2009
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) . Calibración de micrómetro de exteriores Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (desplazamiento de platina) Javier Ponce Arredondo 15/07/2009
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (desplazamiento de platina) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (Escala Angular) Javier Ponce Arredondo 15/07/2009
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (Escala Angular) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (Amplificación) Javier Ponce Arredondo 15/07/2009
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Comparador óptico (Amplificación) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Desplazamiento de platina) Javier Ponce Arredondo 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Desplazamiento de platina) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Escala Angular) Javier Ponce Arredondo 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Escala Angular) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Amplificación) Javier Ponce Arredondo 15/11/2017
Proyectores de perfiles y microscopios de medición . Microscopios de medición (Amplificación) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Reglas, cintas y flexometros . Calibración de cintas graduadas y flexómetros, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio Javier Ponce Arredondo 15/07/2009
Reglas, cintas y flexometros . Calibración de cintas graduadas y flexómetros, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Goniometros . Calibración de goniómetro (transportador de angulos) Javier Ponce Arredondo 16/12/2009
Goniometros . Calibración de goniómetro (transportador de angulos) Leonardo Huitrón López 15/11/2017
Dureza Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) Javier Ponce Arredondo 02/12/2020
Medidor de dureza (Durómetro ASKER) Javier Ponce Arredondo 02/12/2020
Dureza . Medidor de dureza (Rockwell) Javier Ponce Arredondo 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Rockwell) Leonardo Huitrón López 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Shore) Javier Ponce Arredondo 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Shore) Leonardo Huitrón López 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Brinell) Javier Ponce Arredondo 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Brinell) Leonardo Huitrón López 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) Javier Ponce Arredondo 04/06/2018
Dureza . Medidor de dureza (Vickers/MicroVickers/Knoop) Leonardo Huitrón López 04/06/2018