| Alcance de la acreditación: Laboratorio de Calibración |
|
Norma de acreditación: ISO/IEC 17025:2017. Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración |
| Número de acreditación |
Vigencia a partir de |
Última reevaluación |
Área |
Subárea |
Método o procedimiento |
Vigencia a partir de |
Término de vigencia |
Detalle |
CMC |
| D-111 |
05/10/2012 |
17/07/2024 |
Dimensional |
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de calibrador |
05/10/2012 |
Indefinida |
|
|
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de micrómetro de exteriores |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de medidor de alturas |
07/12/2017 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud) |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Proyectores de perfiles y microscopios de medición |
Calibración de proyector de perfiles (C.O.) |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Proyectores de perfiles y microscopios de medición |
Calibración de microscopios de medición |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Mesas de planitud |
Calibración de mesas de planitud |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Goniometros |
Calibración de goniómetro (transportador de angulos) |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Escuadras |
Calibración de escuadras, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio |
05/12/2019 |
Indefinida |
| Servicios de medición |
Medición por sistema de visión |
23/09/2020 |
Indefinida |
| Longitud - Indicadores |
Indicador de caratula (vástago recto) |
21/09/2022 |
Indefinida |
| Longitud - Medidores de espesor |
Medidores de espesores por campos magnéticos, electromagnéticos y corriente de Eddy |
05/10/2012 |
Indefinida |
| Longitud - Rugosidad por contacto |
Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk) |
05/12/2019 |
Indefinida |
| Longitud - Ultrasonido |
Medidor de espesores por ultrasonido |
24/10/2016 |
Indefinida |
| Longitud - Calibrador |
Sistemas verticales de medición |
20/10/2021 |
Indefinida |
| Longitud - Sistemas ópticos |
Sistema de Visión |
05/12/2019 |
Indefinida |
| Longitud - Indicadores |
Indicador de caratula tipo palanca |
21/09/2022 |
Indefinida |
| Transición CMC |
Transición CMC 2022-2023 |
16/12/2022 |
Indefinida |
| F-81 |
16/06/2021 |
17/07/2024 |
Fuerza |
Fuerza |
Instrumento de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008 |
16/06/2021 |
Indefinida |
|
|
| Fuerza |
Maquina de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008 |
16/06/2021 |
Indefinida |
| Transición CMC |
Transición CMC 2022-2023 |
16/12/2022 |
Indefinida |
| Signatarios autorizados |
| Área |
Método o procedimiento
|
Nombre |
Vigencia a partir de |
|
Dimensional
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
|
Moisés Vega Bello
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05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
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07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
|
Armando Aguilar Blanco
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
|
Moisés Vega Bello
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
|
Armando Aguilar Blanco
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05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
|
21/09/2022
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (desplazamiento de platina)
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (desplazamiento de platina)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (desplazamiento de platina)
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (desplazamiento de platina)
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (desplazamiento de platina)
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
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21/09/2022
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|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (Escala Angular)
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (Escala Angular)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (Escala Angular)
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (Escala Angular)
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Proyectores de perfiles y microscopios de medición
. Comparador óptico (Escala Angular)
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
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21/09/2022
|
|
Mesas de planitud
. Calibración de mesas de planitud
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
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|
Mesas de planitud
. Calibración de mesas de planitud
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Mesas de planitud
. Calibración de mesas de planitud
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Mesas de planitud
. Calibración de mesas de planitud
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Mesas de planitud
. Calibración de mesas de planitud
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
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21/09/2022
|
|
Goniometros
. Calibración de goniómetro (transportador de angulos)
|
Armando Aguilar Blanco
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05/10/2012
|
|
Goniometros
. Calibración de goniómetro (transportador de angulos)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Goniometros
. Calibración de goniómetro (transportador de angulos)
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Goniometros
. Calibración de goniómetro (transportador de angulos)
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Escuadras
. Calibración de escuadras, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/12/2019
|
|
Escuadras
. Calibración de escuadras, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/12/2019
|
|
Escuadras
. Calibración de escuadras, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio
|
Moisés Vega Bello
|
05/12/2019
|
|
Escuadras
. Calibración de escuadras, solo en las instalaciones permanentes del laboratorio
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
05/12/2019
|
|
Servicios de medición
. Medición por sistema de visión
|
Armando Aguilar Blanco
|
23/09/2020
|
|
Servicios de medición
. Medición por sistema de visión
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
23/09/2020
|
|
Servicios de medición
. Medición por sistema de visión
|
Moisés Vega Bello
|
23/09/2020
|
|
Servicios de medición
. Medición por sistema de visión
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
23/09/2020
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
Armando Aguilar Blanco
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
Moisés Vega Bello
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Calibrador
. Sistemas verticales de medición
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
20/10/2021
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula (vástago recto)
|
Armando Aguilar Blanco
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula (vástago recto)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula (vástago recto)
|
Moisés Vega Bello
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula (vástago recto)
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula (vástago recto)
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula tipo palanca
|
Armando Aguilar Blanco
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula tipo palanca
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula tipo palanca
|
Moisés Vega Bello
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula tipo palanca
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Indicadores
. Indicador de caratula tipo palanca
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Medidores de espesor
. Medidores de espesores por campos magnéticos, electromagnéticos y corriente de Eddy
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/10/2012
|
|
Longitud - Medidores de espesor
. Medidores de espesores por campos magnéticos, electromagnéticos y corriente de Eddy
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/10/2012
|
|
Longitud - Medidores de espesor
. Medidores de espesores por campos magnéticos, electromagnéticos y corriente de Eddy
|
Moisés Vega Bello
|
05/10/2012
|
|
Longitud - Medidores de espesor
. Medidores de espesores por campos magnéticos, electromagnéticos y corriente de Eddy
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Longitud - Rugosidad por contacto
. Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk)
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Rugosidad por contacto
. Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk)
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Rugosidad por contacto
. Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk)
|
Moisés Vega Bello
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Rugosidad por contacto
. Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk)
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Rugosidad por contacto
. Calibración de Rugosimetro (Ra, Rz, Rsm, Rk, Rv, Rvk)
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Sistemas ópticos
. Sistema de Visión
|
Armando Aguilar Blanco
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Sistemas ópticos
. Sistema de Visión
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Sistemas ópticos
. Sistema de Visión
|
Moisés Vega Bello
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Sistemas ópticos
. Sistema de Visión
|
GABRIELA ELIZABETH SÁNCHEZ JIMÉNEZ
|
05/12/2019
|
|
Longitud - Sistemas ópticos
. Sistema de Visión
|
LUIS ALBERTO LARA REYES
|
21/09/2022
|
|
Longitud - Ultrasonido
. Medidor de espesores por ultrasonido
|
Armando Aguilar Blanco
|
24/10/2016
|
|
Longitud - Ultrasonido
. Medidor de espesores por ultrasonido
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
24/10/2016
|
|
Longitud - Ultrasonido
. Medidor de espesores por ultrasonido
|
Moisés Vega Bello
|
24/10/2016
|
|
Longitud - Ultrasonido
. Medidor de espesores por ultrasonido
|
GABRIELA ELIZABETH SANCHEZ JIMENEZ
|
07/12/2017
|
|
Fuerza
|
. Instrumento de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008
|
Armando Aguilar Blanco
|
16/06/2021
|
|
. Instrumento de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
16/06/2021
|
|
. Maquina de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008
|
Armando Aguilar Blanco
|
16/06/2021
|
|
. Maquina de medición de fuerza - NMX-CH-7500-1-IMNC-2008
|
Carlos Abraham Nájera Montiel
|
16/06/2021
|