| Alcance de la acreditación: Laboratorio de Calibración |
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Norma de acreditación: NMX-EC-17025-IMNC-2006 ISO/IEC 17025:2005. Requisitos generales para la competencia de laboratorios de ensayo y de calibración |
| Número de acreditación |
Vigencia a partir de |
Última reevaluación |
Área |
Subárea |
Método o procedimiento |
Vigencia a partir de |
Término de vigencia |
Detalle |
CMC |
| D-127 |
22/05/2013 |
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Dimensional |
Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de calibrador |
22/05/2013 |
Indefinida |
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| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de micrómetro de exteriores |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de medidor de alturas |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de calibrador de micrómetro de profundidad |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de medidor de espesores con indicador |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de medidores de profundidad con indicador |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas) |
Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud) |
22/05/2013 |
Indefinida |
| Indicadores y medidores de interiores |
Calibración de indicador de vástago recto |
24/01/2017 |
Indefinida |
| Indicadores y medidores de interiores |
Calibración de indicador de tipo palanca |
24/01/2017 |
Indefinida |
| Signatarios autorizados |
| Área |
Método o procedimiento
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Nombre |
Vigencia a partir de |
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Dimensional
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
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José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador
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Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de micrómetro de exteriores
|
Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
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José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de alturas
|
Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador de micrómetro de profundidad
|
José de Jesús González Camacho
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24/01/2017
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de calibrador de micrómetro de profundidad
|
Martha Gutiérrez Munguía
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24/01/2017
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de espesores con indicador
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José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidor de espesores con indicador
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Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidores de profundidad con indicador
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José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de medidores de profundidad con indicador
|
Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
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José de Jesús González Camacho
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22/05/2013
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Calibraciones con bloques patrón (incluye lainas)
. Calibración de sistemas verticales de medición (medidores de altura de alta exacitud)
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Martha Gutiérrez Munguía
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22/05/2013
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Indicadores y medidores de interiores
. Calibración de indicador de vástago recto
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José de Jesús González Camacho
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24/01/2017
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Indicadores y medidores de interiores
. Calibración de indicador de vástago recto
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Martha Gutiérrez Munguía
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24/01/2017
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Indicadores y medidores de interiores
. Calibración de indicador de tipo palanca
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José de Jesús González Camacho
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24/01/2017
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Indicadores y medidores de interiores
. Calibración de indicador de tipo palanca
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Martha Gutiérrez Munguía
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24/01/2017
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